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電子元器件的主要失效模式包括但不限于開(kāi)路、短路、燒毀、爆炸、漏電、功能失效、電參數(shù)漂移、非穩(wěn)定失效等。對(duì)于硬件工程師來(lái)講電子元器件失效是個(gè)非常麻煩的事情,比如某個(gè)半導(dǎo)體器件外表完好但實(shí)際上已經(jīng)半失效或者全失效會(huì)在硬件電路調(diào)試上花費(fèi)大把的時(shí)間,有時(shí)甚至炸機(jī)。
電阻器失效模式與機(jī)理
失效模式:各種失效的現(xiàn)象及其表現(xiàn)的形式。
失效機(jī)理:是導(dǎo)致失效的物理、化學(xué)、熱力學(xué)或其他過(guò)程。
1、電阻器的主要失效模式與失效機(jī)理為
1) 開(kāi)路:主要失效機(jī)理為電阻膜燒毀或大面積脫落,基體斷裂,引線帽與電阻體脫落。
2) 阻值漂移超規(guī)范:電阻膜有缺陷或退化,基體有可動(dòng)鈉離子,保護(hù)涂層不良。
3) 引線斷裂:電阻體焊接工藝缺陷,焊點(diǎn)污染,引線機(jī)械應(yīng)力損傷。
4) 短路:銀的遷移,電暈放電。
失效機(jī)理分析
電阻器失效機(jī)理是多方面的,工作條件或環(huán)境條件下所發(fā)生的各種理化過(guò)程是引起電阻器老化的原因。
(1)導(dǎo)電材料的結(jié)構(gòu)變化
(2)硫化
(3)氣體吸附與解吸
(4)氧化
(5)有機(jī)保護(hù)層的影響
(6)機(jī)械損傷