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電子元器件技術(shù)的快速發(fā)展和可靠性的提高奠定了現(xiàn)代電子裝備的基礎(chǔ),元器件可靠性工作的根本任務(wù)是提高元器件的可靠性。因此,必須重視和加快發(fā)展元器件的可靠性分析工作,通過分析確定失效機(jī)理,找出失效原因,反饋給設(shè)計(jì)、制造和使用,共同研究和實(shí)施糾正措施,提高電子元器件的可靠性。
電子元器件失效分析的目的是借助各種測(cè)試分析技術(shù)和分析程序確認(rèn)電子元器件的失效現(xiàn)象,分辨其失效模式和失效機(jī)理,確認(rèn)結(jié)果的失效原因,提出改進(jìn)設(shè)計(jì)和制造工藝的建議,防止失效的重復(fù)出現(xiàn),提高元器件可靠性。
失效分析意義
1、提供電子元器件設(shè)計(jì)和工藝改進(jìn)的依據(jù),指引產(chǎn)品可靠性工作方向;
2、查明電子元器件失效根本原因,有效提出并實(shí)施可靠性改進(jìn)措施;
3、提高成品產(chǎn)品成品率及使用可靠性,提升企業(yè)核心競(jìng)爭力;
4、明確引起產(chǎn)品失效的責(zé)任方,為司法仲裁提供依據(jù)。
分析過的元器件種類
集成電路、場(chǎng)效應(yīng)管、二極管、發(fā)光二極管、三極管、晶閘管、電阻、電容、電感、繼電器、連接器、光耦、晶振等各種有源/無源器件。
中科檢測(cè)是具備CMA、CNAS資質(zhì)認(rèn)證的第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu),累計(jì)數(shù)十年檢測(cè)經(jīng)驗(yàn)和資源團(tuán)隊(duì),能對(duì)電子元器件失效原因進(jìn)行檢測(cè)分析,并根據(jù)失效分析和根因?yàn)楫a(chǎn)品物料優(yōu)選、設(shè)計(jì)改進(jìn)和失效預(yù)防提供技術(shù)解決方案。